電子產(chǎn)品的可靠性試驗(yàn)方法有多種，下面介紹幾種常用的方法。 

    *種方法是“試驗(yàn)——問題記錄——再試驗(yàn)”模式。該方法就是把初步研制的產(chǎn)品，通過試驗(yàn)發(fā)現(xiàn)問題時，不是立即進(jìn)行改進(jìn)，而是把問題記錄下來，待在一個試驗(yàn)階段結(jié)束以及下一個階段開始之前，根據(jù)各種失效模式的失效機(jī)理，集中地進(jìn)行改進(jìn)，然后再進(jìn)行試驗(yàn)。采用這種試驗(yàn)法，產(chǎn)品可靠性將有較大的躍進(jìn)。這種試驗(yàn)法，比較適用于一批試驗(yàn)機(jī)中，出現(xiàn)幾個問題，其中一種問題是占主要地位而其余問題是次要的情況。 

    第二種方法是“試驗(yàn)——改進(jìn)——再試驗(yàn)”模式。該方法就是把初步研制的產(chǎn)品，通過試驗(yàn)，暴露產(chǎn)品的薄弱環(huán)節(jié)，分析產(chǎn)品的失效模式和失效機(jī)理，找出問題就立即改進(jìn)，然后再試驗(yàn)證實(shí)所解決的問題，使產(chǎn)品的可靠性得到增長。這種方法在電子產(chǎn)品的研制階段，通過系統(tǒng)試驗(yàn)，暴露出產(chǎn)品薄弱環(huán)節(jié)之后，根據(jù)具體情況，立即進(jìn)行必要的改進(jìn)是能夠使產(chǎn)品的可靠性有大幅度的增長，這種方法比較適用于試驗(yàn)中只出現(xiàn)一種比較普遍和嚴(yán)重問題的情況，針對性較強(qiáng)。 

    第三種方法是“含延緩改進(jìn)的試驗(yàn)——改進(jìn)——再試驗(yàn)”模式。該方法是將方法一和方法二結(jié)合起來，通過試驗(yàn)發(fā)現(xiàn)了產(chǎn)品的問題，有些改進(jìn)在試驗(yàn)中了產(chǎn)品的問題，有些改進(jìn)在試驗(yàn)中立即著手進(jìn)行，有些延緩到試驗(yàn)結(jié)束后再作改進(jìn)。在試驗(yàn)中，對能及時改進(jìn)的問題，立即采取措施改進(jìn)產(chǎn)品，提高可靠性，在試驗(yàn)階段結(jié)束后，把延緩的問題至下次試驗(yàn)開始前進(jìn)行改進(jìn)，然后再進(jìn)行試驗(yàn)，使產(chǎn)品的可靠性得到較大的增長。這種方法比較適合于試驗(yàn)中出現(xiàn)幾種問題，并且一些問題能短期容易改進(jìn)的，另一些問題卻需要相當(dāng)一段時間才能改進(jìn)的綜合情況。 

    對于以上所述的三種方法，電子產(chǎn)品在研制階段中，經(jīng)過系統(tǒng)的試驗(yàn)，要根據(jù)暴露出的問題作具體分析，靈活應(yīng)用。可靠性試驗(yàn)中常用的三種方法往往是周而復(fù)始地循環(huán)，并且一個循環(huán)比一個循環(huán)產(chǎn)品的可靠性水平向上增長，另外可靠性試驗(yàn)除通過系統(tǒng)試驗(yàn)外，還應(yīng)根據(jù)具體情況通過氣候環(huán)境試驗(yàn)、機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)和人為正常使用等各方面的試驗(yàn)來暴露產(chǎn)品生產(chǎn)的薄弱環(huán)節(jié)，進(jìn)行綜合的科學(xué)分析，做相應(yīng)的改進(jìn)，使得電子產(chǎn)品在設(shè)計(jì)研制階段對其固有可靠性有進(jìn)一步的提高。 

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